下列哪些内容不属于材料成分结构分析()扫描电子显微镜下列说法正确的是()关于二次电子的描述,正确的是()原子力显微镜入射电子与样品原子发生(),散射波会相互干涉形成衍射波。入射电子与样品原子发生弹性散射,散射波相互干涉形成衍射波对于简单点阵

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下列哪些内容不属于材料成分结构分析()扫描电子显微镜下列说法正确的是()关于二次电子的描述,正确的是()原子力显微镜入射电子与样品原子发生(),散射波会相互干涉形成衍射波。入射电子与样品原子发生弹性散射,散射波相互干涉形成衍射波对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是()A:杂质含量 B:物相组成 C:晶界组成厚度 D:晶粒大小形态 答案: 晶界组成厚度;晶粒大小形态D:A:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释 B:由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑 C:两个埃利斑靠得越近,越容易被分辨 D:埃利斑半径与光源波长成反比,与透镜数值孔径成正比 答案: 衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释;由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑A:二次电子信号反映样品的成分信息 B:二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子 C:二次电子信号反映样品的表面形貌特征 D:二次电子信号的分辨率高 答案: 二次电子是入射电子与原子核外的价电子发生非弹性散射时被激发的核外电子;二次电子信号反映样品的表面形貌特征;二次电子信号的分辨率高D:A:叠加干涉 B:弹性散射 C:非弹性散射 D:衍射 答案: 弹性散射B:A:h+k+l为奇数 B:不存在系统消光 C:hkl为异性数 D:h+k为奇数 答案: 不存在系统消光

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