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绪论 单元测试
1、 物相分析是指利用衍射的方法探测晶格类型和晶胞常数，确定物质的相结构，下面哪一项不是主要的物相分析手段？（ ）
A:X射线衍射分析
B:电子衍射
C:扫描电子显微分析
D:中子衍射
答案: 扫描电子显微分析
2、 按照出射信号的不同，成分分析手段可以分为两类：X光谱和电子能谱，出射信号分别是X射线和电子，下面哪一项不属于成分分析手段？（ ）
A:X射线荧光光谱
B:电子衍射
C:俄歇电子能谱
D:电子探针X射线显微分析
答案: 电子衍射
3、 通过对材料的吸收光谱进行分析，可以掌握材料的成份，请问以下哪几种属于吸收光谱？（ ）
A:穆斯堡尔谱
B:红外光谱
C:顺磁共振波谱
D:原子荧光光谱
答案: 穆斯堡尔谱
红外光谱
顺磁共振波谱
4、 材料分析的基本原理是指测量信号与材料成分、结构等的特征关系。（ ）
A:对
B:错
答案: 对
5、 按照辐射与物质相互作用的性质不同，光谱可分为吸收光谱，发射光谱和散射光谱。（ ）
A:对
B:错
答案: 对
第一章 单元测试
1、
X射线在晶体中产生衍射的充分条件是（ ）。
A:满足布拉格方程且结构因子不等于零。
B:满足布拉格方程且结构因子等于零。
C:晶面间距大于等于半波长。
D:其他选项说法都不对。
答案: 满足布拉格方程且结构因子不等于零。
2、 影响X射线连续谱总强度的因素包括（ ）。
A:阳极靶原子序数
B:管电压
C:管电流
D:X射线方向
答案: 阳极靶原子序数
管电压
管电流
3、 在X射线衍射分析中应用的主要是它的波动性，反映在传播过程中发生干涉、衍射作用。（ ）
A:对
B:错
答案: 对
4、 由布拉格方程变形而引入了干涉指数，对其描述正确的是（ ）。
A:干涉指数一定表示一组真实晶面。
B:干涉指标不一定表示一组真实晶面。
C:干涉指数不能表示一组真实晶面。
D:干涉指数和晶面指数的含义相同。
答案: 干涉指标不一定表示一组真实晶面。
5、 非相干散射是引起晶体产生衍射效应的根源。（ ）
A:对
B:错
答案: 错
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